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不同類型缺陷的綜合控制應與嚴重度評分法相結合。我們不應該簡單地統(tǒng)計過程或產品中的缺陷數量，而應該計算缺陷的嚴重程度得分，并將統(tǒng)計的缺陷轉換為測量的得分。

示例:

過去一個鑄件的重要缺陷是含有砂眼，產品質量只能達到3σ級別。長期以來，質量控制是以缺陷率控制圖為基礎的。現在質量改進后，產品質量有了很大提高，達到了5σ的水平，鑄件砂眼比例已經低于0.1%。因此，決定使用缺陷評分控制圖對各種產品缺陷進行綜合控制。

缺陷打分控制圖與接近零缺陷的控制圖

使用單值-范圍控制圖，每天選取100個鑄件為一組，計算該組鑄件的總缺陷分數作為樣本值。為了繪制控制圖，連續(xù)提取了25天。

缺陷打分控制圖與接近零缺陷的控制圖

從上面的控制圖可以看出，每組鑄件的平均缺陷分數為12.4分，單值圖UCL=25.92，平均極差圖UCL=16.61，平均極差圖UCL = 5.083。兩個畫面都在掌控之中。

在本例中，缺陷數控圖通過缺陷評分法成功轉化為測量控制圖。如果能進一步給出分值的標準界限，就可以計算出過程能力指數，對過程能力進行綜合評價。

二.接近零缺陷的控制圖

零缺陷是人類生產力目前無法真正達到的理想質量狀態(tài)。當缺陷率極低時，與大量無缺陷的產品相比，生產過程中只是偶爾存在少數缺陷，便稱為是“接近零缺陷過程”。6σ質量管理的思想是實現方法零缺陷過程。

缺陷打分控制圖與接近零缺陷的控制圖

使用缺陷數(包括不合格品數NP)的常規(guī)控制圖時，要求每個樣本的平均缺陷數NP≥1。在逼近零缺陷的過程中，如果NP較大，要求大量樣本是不現實的。實際上，當NP=1時，常規(guī)缺陷數控制圖的應用效果是比較差的，因為常規(guī)缺陷控制圖是基于正態(tài)近似的，當NP=1時(即使n很大)效果很差。為此，當NP=1時，傳統(tǒng)的計數控制圖需要改進。一種方法是對原始離散數據進行數學變換，使變換后的數據滿足正常要求。另一種方法是保持原始數據不變，調整控制限的設置方法。這里介紹的接近零缺陷控制圖就是NP=1時，用后一種方法做控制所繪制的控制圖。